基于改進YOLOv8的光學元件體損傷點檢測

摘要： 為提高數(shù)字圖像處理算法對晶體體損傷點識別和計數(shù)的準確性，提出一種基于改進YOLOv8的晶體體損傷點檢測（YOLOv8-OCD）算法。首先，針對晶體體損傷點非均勻分布的特點，在骨干網(wǎng)絡(luò)中引入卷積塊注意力模塊（CBAM），使模型專注于損傷點密集區(qū)域，以提高模型的特征提取能力；其次，針對數(shù)量龐大的微小損傷點，設(shè)計小目標檢測層，降低漏檢率；最后，針對數(shù)據(jù)集中的一部分低質(zhì)量實例，使用Wi... （共8頁）