壓強(qiáng)對HfO2薄膜表面石墨烯合成的影響研究
摘要: 采用真空電子束蒸鍍工藝制備HfO
2高K介質(zhì)薄膜,并在HfO
2襯底表面使用等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(PECVD)工藝無轉(zhuǎn)移制備石墨烯。通過GIXRD、AFM、阻抗分析儀和激光拉曼光譜儀等,研究了生長溫度對HfO
2薄膜微觀結(jié)構(gòu)、表面形貌和介電性能的影響,以及反應(yīng)總壓強(qiáng)對HfO
2襯底表面石墨烯生長的影響。結(jié)果表明,生長溫度為250℃時(shí)HfO
2薄膜具有最優(yōu)的表面形貌(RMS=... (共7頁)
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