用于薄液膜厚度測(cè)量的面陣列電導(dǎo)傳感器的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證
摘要: 液膜厚度是研究降液膜展開(kāi)及發(fā)展演化所需的重要參數(shù),目前市面上主流的膜厚探頭主要是基于點(diǎn)探測(cè)原理、無(wú)法滿足液膜展開(kāi)的面厚度測(cè)量需求,本研究基于降液膜厚度的范圍,自主設(shè)計(jì)了基于柔性印刷電路板的電導(dǎo)法同軸圓環(huán)面陣列傳感器。成功制造的傳感器在42 mm×57 mm面積上有3×4個(gè)同軸圓環(huán)探測(cè)單元,探頭間距為15 mm,實(shí)現(xiàn)了0.3 mm~3 mm范圍內(nèi)的液膜厚度測(cè)量,測(cè)量電阻換算厚度的... (共7頁(yè))
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