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表層氧化對(duì)單晶鐵薄膜電子磁手性二向色性譜的影響研究

電子顯微學(xué)報(bào) 頁數(shù)： 9 2024-08-15
摘要： 電子磁手性二向色性技術(shù)(EMCD)是一種基于透射電鏡電子能量損失譜(EELS)的磁表征技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)亞納米級(jí)高空間分辨、元素分辨的局域軌道自旋磁矩定量測(cè)量。本文以單晶鐵薄膜為例研究了金屬透射樣品表面氧化對(duì)EMCD信號(hào)的影響。在Fe/MgO(001)薄膜的平面樣品中，從不同區(qū)域中提取一系列低能損失譜、Fe-L_(2,3)峰常規(guī)在軸芯能級(jí)損失譜和動(dòng)量轉(zhuǎn)移矢量分辨的離軸芯能級(jí)損失譜(q... （共9頁）

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