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伴隨α粒子探測(cè)器的性能研究

核電子學(xué)與探測(cè)技術(shù) 頁(yè)數(shù)： 6 2024-05-28
摘要： 伴隨粒子成像技術(shù)(API)正逐漸成為探測(cè)爆炸物和毒品的重要工具。α探測(cè)器的位置分辨率和時(shí)間分辨率對(duì)成像系統(tǒng)的空間分辨能力起著關(guān)鍵作用,直接影響其性能。本文針對(duì)摻鈰鋁酸釔(YAP:Ce)閃爍體和H12700B位置靈敏光電倍增管組建的伴隨α粒子探測(cè)器進(jìn)行了位置分辨率和時(shí)間分辨率的性能研究:利用241 Am源和不同寬度的柵條獲得α粒子探測(cè)器的位置分辨率;利用薄膜有機(jī)閃爍體構(gòu)建的... （共6頁(yè)）

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