面向鏡面面形可檢測性的離軸三反光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法

摘要： 光學(xué)系統(tǒng)鏡面面形的可檢測性是光學(xué)系統(tǒng)從設(shè)計(jì)走向應(yīng)用的基本條件。目前的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法多側(cè)重于約束外形尺寸、提高成像質(zhì)量，光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)和光學(xué)元件檢測設(shè)計(jì)與評估經(jīng)常是先后進(jìn)行的，在系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)不直接得到檢測性的反饋。對于高指標(biāo)要求的光學(xué)系統(tǒng)，容易造成系統(tǒng)像質(zhì)設(shè)計(jì)良好、但元件檢測難度過大的情況，使光學(xué)系統(tǒng)的落地應(yīng)用產(chǎn)生瓶頸。在光學(xué)系統(tǒng)優(yōu)化設(shè)計(jì)過程中，融入檢測的相關(guān)理論方法是解決光學(xué)元件... （共10頁）