電連接器用聚氨酯膠密封件貯存可靠性建模
摘要: 針對(duì)長(zhǎng)期貯存狀態(tài)下導(dǎo)彈用電連接器的密封可靠性評(píng)估問(wèn)題,通過(guò)對(duì)電連接器用聚氨酯膠密封件在貯存環(huán)境下的失效分析,確定了聚氨酯膠密封失效為內(nèi)聚失效和邊界失效共同引起的密封泄漏,揭示了聚氨酯膠在貯存環(huán)境下性能退化機(jī)制為環(huán)境溫度和濕度引起聚氨酯膠內(nèi)部的大分子基團(tuán)氧化和水解;基于牛頓黏性定律和Roth密封理論,建立了結(jié)合內(nèi)聚失效和邊界破壞的氣體泄漏數(shù)學(xué)表達(dá)式;基于分子動(dòng)力學(xué)和質(zhì)量作用定律,... (共11頁(yè))
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