連續(xù)激光輻照背照式CMOS圖像傳感器實驗研究

摘要： 背照式互補金屬氧化物半導(dǎo)體(complementary metal oxide semiconductor,CMOS)圖像傳感器較前照式結(jié)構(gòu)顯著提高了低光照環(huán)境下的拍攝效果,激光對不同結(jié)構(gòu)傳感器有不同的干擾損傷機(jī)制。為了研究激光對背照式CMOS圖像傳感器的影響,利用1 064 nm連續(xù)激光,開展對背照式CMOS圖像傳感器的干擾和損傷實驗研究。干擾實驗觀察到飽和與反飽和現(xiàn)象,激光... （共7頁）