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中子成像的氫散射校正方法

原子能科學(xué)技術(shù) 頁數(shù): 7 2024-08-22
摘要: 中子成像可無損地探測樣品內(nèi)部的成份和結(jié)構(gòu)等信息,已應(yīng)用于諸多領(lǐng)域中材料的定量分析。中子成像對樣品中的含氫物質(zhì)進(jìn)行定量分析時(shí),由于氫的總散射截面大于吸收截面,散射中子會(huì)降低圖像質(zhì)量,嚴(yán)重干擾定量分析。已有的散射校正方法各自存在一定的局限性,或不適用所有樣品、或增加曝光時(shí)間或數(shù)據(jù)處理復(fù)雜等。因此,本文提出了一種新的散射校正方法—雙探測器法,并對水層樣品進(jìn)行實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。結(jié)果表明,校正后... (共7頁)

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