基于干涉條紋成像的測角系統(tǒng)設(shè)計及其離軸測量精度

摘要： 基于干涉條紋成像的測角系統(tǒng)測量精度隨著測量范圍的增大而下降，單純提高精定位的細分倍數(shù)并不能提高測量精度。針對這一問題，本文圍繞非成像系統(tǒng)的參數(shù)設(shè)計方法及大測量范圍下的精度變化情況展開研究。建立了雙光柵干涉系統(tǒng)及光楔陣列波前分割的數(shù)學模型，給出了近軸條件下非成像光學系統(tǒng)的參數(shù)設(shè)計方法。設(shè)計了一臺一維高精度光學測角系統(tǒng)，并對該系統(tǒng)在整個測角范圍內(nèi)的測量誤差進行了分析和計算。結(jié)果顯示... （共11頁）