基于改進(jìn)Otsu算法的游標(biāo)卡尺縫隙檢測(cè)

摘要： 工業(yè)檢測(cè)過(guò)程中，根據(jù)分辨率的高低，采集的圖像分為加工紋理清晰和模糊兩種情況。
提出一種基于改進(jìn)Otsu算法的游標(biāo)卡尺卡爪縫隙檢測(cè)方法，基于四叉樹(shù)理論解決目標(biāo)像素點(diǎn)較少時(shí)Otsu算法效果不好的問(wèn)題。
高分辨率圖像下的游標(biāo)卡尺表面紋理清晰，難以區(qū)分紋理特征和縫隙特征。 （共6頁(yè)）