Ag層厚度對Ag/Fe/Ag薄膜的微結構和磁特性的影響

摘要： 室溫下,利用直流對靶磁控濺射設備制備了Ag(x)/Fe(35nm)/Ag(x)系列薄膜,x=1,2,3,4nm.利用掃描探針顯微鏡(SPM)觀測了樣品的表面形貌及磁疇結構,應用X射線衍射儀(XRD)分析了樣品的晶體結構,通過振動樣品磁強計(VSM)測量了樣品的磁特性.研究表明,非磁性Ag層厚度對Ag/Fe/Ag系列薄膜的微結構和磁特性有很大的影響.SPM觀測顯示,隨Ag層厚度增加磁疇尺寸呈現(xiàn)先減小后增加的趨勢.VSM結果顯示,矯頑力的變化與磁疇尺寸的變化趨勢是一致的,x=3nm時,垂直膜面矯頑力達到最大. （共3頁）