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電子顯微學(xué)報(bào)(2024年06期)
Journal of Chinese Electron Microscopy Society

  • 基本信息

  • ：中國(guó)物理學(xué)會(huì)

    ：雙月

    ：1000-6281

  • ：11-2295/TN

    ：北京市

    ：中文;

    ：大16開

    ：1982

  • 出版信息

  • ： 基礎(chǔ)科學(xué)

    ： 物理學(xué)

    ：7028篇

  • ： 931029次

    ： 24558次

  • 評(píng)價(jià)信息

  • ：1.07

    ：0.903

    ：

  • CA 化學(xué)文摘(美)(2020)

    JST 日本科學(xué)技術(shù)振興機(jī)構(gòu)數(shù)據(jù)庫(kù)(日)(2018)

    CSCD 中國(guó)科學(xué)引文數(shù)據(jù)庫(kù)來源期刊(2019-2020年度)(擴(kuò)展版)

    ：

    2000年版,2008年版,2017年版,2020年版

    ：

    Caj-cd規(guī)范獲獎(jiǎng)期刊;

目 錄

  • 界面影響B(tài)FO鐵電薄膜極化翻轉(zhuǎn)行為的原位電學(xué)研究
  • 硒化銻儲(chǔ)鈉機(jī)制的原位透射電鏡研究
  • 選區(qū)激光熔化成形GH3536合金顯微組織和力學(xué)性能研究
  • 加速電壓、探測(cè)層厚度和處理方法對(duì)混合像素探測(cè)器成像的影響探究
  • 基于機(jī)器學(xué)習(xí)的原子識(shí)別以及非線性漂移校正
  • 狹縫陣列法產(chǎn)生準(zhǔn)貝塞爾電子束用于HAADF-STEM成像研究
  • 腎缺血再灌注損傷對(duì)大鼠腎小球?yàn)V過屏障超微結(jié)構(gòu)的影響
  • 掃描電鏡二次電子探測(cè)器閃爍體導(dǎo)電層厚度對(duì)成像的影響
  • 共聚焦顯微拉曼光譜儀的新功能設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
  • 掃描電鏡多角度圖像采集系統(tǒng)研究
  • 基于雙目視覺的FIB-SEM雙束系統(tǒng)圖像三維重建研究
  • 高通量測(cè)序技術(shù)與電鏡技術(shù)在RNA表觀修飾研究中的應(yīng)用
  • 電子束品質(zhì)評(píng)價(jià)方法綜述
  • 電子顯微學(xué)報(bào) 第43卷(2024年)總目次
  • 《電子顯微學(xué)報(bào)》征稿簡(jiǎn)則
  • 青稞首張幼穗分化圖譜的繪制
  • 《電子顯微學(xué)報(bào)》編輯部年終感言
  • 賀新春
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