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電子顯微學(xué)報(2024年05期)
Journal of Chinese Electron Microscopy Society
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- 基本信息
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:中國物理學(xué)會
:雙月
:1000-6281
- 出版信息
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: 基礎(chǔ)科學(xué)
: 物理學(xué)
:7028篇
- 評價信息
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:1.07
:0.903
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目 錄
- ε-Fe2O3/FeO界面結(jié)構(gòu)與相變機理研究
- 電遷移誘導(dǎo)W納米晶表面原子尺度結(jié)構(gòu)演變
- 熱處理對一種新型析出強化型奧氏體不銹鋼顯微組織與性能的影響
- BiFeO3-NiFe2O4復(fù)合多鐵薄膜的微觀結(jié)構(gòu)及磁電耦合研究
- 單晶鈮低溫剪切帶形成與演化的透射電鏡研究
- Ga添加釹鐵硼磁體的原位加熱透射電鏡研究
- 仿生Al2O3/SiCnw/環(huán)氧復(fù)合材料的制備及性能研究
- 鹵化物鈣鈦礦半導(dǎo)體透射電鏡表征的挑戰(zhàn)與機遇
- 高熵合金的成分不均勻性及其特點
- 負(fù)焓合金化設(shè)計獲得高強韌材料
- 《電子顯微學(xué)報》國慶75周年??骶幖恼Z
- 賡續(xù)創(chuàng)新奮斗,筑夢科技強國——賀祖國75華誕
- 《電子顯微學(xué)報》征稿簡則
- 歡迎登陸中國電子顯微鏡學(xué)會官方網(wǎng)站“中國電鏡網(wǎng)”
- 《電子顯微學(xué)報》編輯部賀中華人民共和國75周年華誕
- 國產(chǎn)新旗艦 掃描電子顯微鏡系列
- MUST IN2原位進(jìn)樣系統(tǒng)
- TESCAN AMBER X 2
- TESCAN TENSOR
- Near-Axis TKD(NA-TKD)全新高靈敏TKD解決方案賦能CMOS-EBSD系統(tǒng)
- 掃描電子顯微鏡JSM-IT810
- Iliad:開啟球差校正透射電鏡新篇章